隨著電子設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備和電機(jī)等產(chǎn)品對(duì)小型精密加工零件的需求，精密微加工在全球范圍內(nèi)變得越來越重要。如今，制造商在微觀層面研磨及加工各種材料，他們?cè)絹碓蕉嗟厥褂脪呙桦婄R (SEM) 來評(píng)估產(chǎn)品質(zhì)量，并對(duì)制造過程中可能出現(xiàn)的污染物進(jìn)行顆粒分析。根據(jù)這些污染物的物理和化學(xué)性質(zhì)，針對(duì)性地對(duì)昂貴的微加工設(shè)備進(jìn)行維護(hù)，從而實(shí)現(xiàn)長期性的節(jié)省成本。

例如，德國高精度機(jī)械銑床制造商 KERN Microtechnik ，希望通過確定煙灰顆粒在加工過程中進(jìn)入陶瓷的原因和方式，從而幫助其客戶降低制造成本。需要注意的是這些顆粒會(huì)降低陶瓷的加工速度和精度，并損壞最終產(chǎn)品。

煙灰顆粒可以通過多種方式引入陶瓷制造過程：來自聚合油在銑床上熱分解、來自鉆頭的金屬部件或來自銑削件本身。通過識(shí)別煙塵顆粒的形態(tài)和化學(xué)成分，制造商可以確定根本原因并采取糾正措施，無論是對(duì)研磨機(jī)進(jìn)行維護(hù)還是調(diào)整研磨配方以確保滿意的質(zhì)量。

飛納電鏡大樣品室卓越版 Phenom XL G2 結(jié)合能譜 (EDS) ，幫助 KERN Microtechnik 進(jìn)行顆粒分析，可以快速識(shí)別在加工過程中進(jìn)入陶瓷的煙灰顆粒的形態(tài)和元素組成。直觀的用戶操作界面，短時(shí)間內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)加載樣品和獲得結(jié)果，使質(zhì)量控制專家能夠輕松確定污染物的形貌和成分。
 

EDS 結(jié)果顯示顆粒中存在硅元素，表明煙灰顆粒的陶瓷性質(zhì)。因此，煙灰顆粒不是由油的化學(xué)降解或研磨設(shè)備上部件的磨損產(chǎn)生的。如果使用沒有配備能譜（EDS）的掃描電鏡（SEM），就不可能進(jìn)行這種元素分析。

與其他掃描電鏡（SEM）相比，飛納臺(tái)式掃描電鏡更快速，用戶可以在一分鐘內(nèi)獲得高清的圖片。臺(tái)式 SEM 的外形尺寸小，僅需要很少的實(shí)驗(yàn)室空間，并且允許用戶將 SEM 放置在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上的合適位置，從而進(jìn)行實(shí)時(shí)分析。

通過 Phenom XL G2 臺(tái)式電鏡的幫助，KERN Microtechnik 不僅協(xié)助客戶優(yōu)化高精度銑削工藝和降低制造成本，還確立了自己在創(chuàng)新技術(shù)上的地位。Phenom XL G2 是一款用于質(zhì)量控制的多功能掃描電鏡，可幫助制造商快速分析夾雜物或顆粒，以便改進(jìn)多種材料的研磨和加工過程。