世界先進的應用基礎研究院Fraunhofer研究院的EZRT研究所科研人員以及來自澳大利亞的科學家，最近發表了題為Drought and heat stress tolerance screening in wheat using computed tomography的論文，研究使用計算機斷層掃描系統對麥穗進行了斷層掃描研究，可對種子結構例如種子變形等進行預測和測量，文章發表在Plant Methods上。

Fraunhofer植物計算機斷層掃描系統采用微焦點X射線成像原理進行分辨率三維成像，可以在不破壞樣品（無需染色、無需切片）的情況下，獲得高精度三維圖像，顯示樣品內部詳盡的三維信息，并進行結構、密度的定量分析，適用于觀察植物化石樣品結構和植物活體組織的細胞結構，近年來被廣泛應用于結構學、組織學、生物學特別是古生物學等研究領域，例如花、果實、種子、根系等研究。

Fraunhofer研究院是世界先進的應用技術研究院，很多工業技術都源自于該研究所。Fraunhofer專門成立的植物表型CT研究組致力于CT技術應用在植物的表型研究上。與傳統醫學CT不同，植物CT研究需要獨特算法和軟件等，Fraunhofer研究院在該研究領域位于世界前沿。

近年來，Fraunhofer團隊一直致力于將計算機斷層掃描技術應用于植物表型研究領域，特別是專注于植物結構高分辨率無損檢測。其中一個研究方向為研究外在脅迫因素對植物微觀結構的影響，研究方向有木質部結構如何對脅迫，如干旱做出反應。在干旱環境下，一些植物不再為葉片或整個枝條提供水分。研究另外一個方向是不同植物基因品系的內部微觀結構特征。

Fraunhofer開發出了便攜式、臺式、落地式以及高通量等多個系列專門針對植物表型研究開發的計算機斷層掃描系統。

Drought and heat stress tolerance screening in wheat using computed tomography

Jessica Schmidt1, Joelle Claussen2*,Norbert Wörlein2, Anja Eggert2, Delphine Fleury1,3, Trevor Garnett1and Stefan Gerth2

Abstract

Background:

Improving abiotic stress tolerance in wheat requires large scale screening of yield components  such as seed weight, seed number and single seed weight, all of which is very laborious, and a detailed analysis of seed mor- phology  is time-consuming and visually often impossible. Computed tomography offers the opportunity for much
faster and more accurate assessment of yield components.

Results: An X-ray computed tomographic analysis was carried out on 203 very diverse wheat
 accessions ,which have been exposed to either drought or combined drought and heat stress. Results demonstrated that
 our computed tomography  pipeline was capable of evaluating grain set with an accuracy of 95–99%. Most accessions exposed 
to combined drought and heat stress developed smaller, shrivelled seeds with an increased seed surface. As expected, seed weight and seed number per ear as well as single seed size were significantly reduced under
 combined drought and heat compared to drought alone. Seed weight along the ear was significantly reduced at the top and bottom of the wheat spike.
 

Conclusions: We were able to establish a pipeline with a higher throughput  with scanning times of 7 min per ear

and accuracy than previous pipelines predicting  a set of agronomical important  seed traits and to visualize even more complex traits such as seed deformations. The pipeline presented here could be scaled up to use for 
high throughput,high resolution phenotyping of tens of thousands of heads, greatly accelerating breeding 
efforts to improve abiotic stress tolerance.

Keywords:  X-ray, High-throughput, Phenotyping, Yield, Seed morphology, Genetic diversity