新型的掃描探針顯微鏡（SPM）和掃描電子顯微鏡（SEM）關聯成像系統介紹
LiteScope™是一種獨特的掃描探針顯微鏡（SPM）。 它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。 組合互補的SPM和SEM技術使其能夠利用兩者的優勢。使用LiteScope™及其可更換探針系列，可以輕松進行復雜的樣品分析，包括表面形貌，機械性能，電性能，化學成分，磁性能等的表征。
相關探針和電子顯微鏡™（CPEM）結合了SPM和SEM技術。 CPEM可以同時在同一協調系統中同時獲取同一區域的SPM和SEM圖像。 結合SPM和SEM成像方法可以得到分析區域的更廣泛的信息光譜，從而揭示兩種圖像中可能存在的等同性和不一致性。
相關探針和電子顯微鏡™（CPEM）結合了SPM和SEM技術。 CPEM可以同時在同一協調系統中同時獲取同一區域的SPM和SEM圖像。 結合SPM和SEM成像方法可以得到分析區域的更廣泛的信息光譜，從而揭示兩種圖像中可能存在的等同性和不一致性。
標簽：
原子力顯微鏡與掃描電鏡關聯成像
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