上海愛建納米科技發(fā)展有限公司是一家專業(yè)從事納米科技研究開發(fā)的民營高技術(shù)企業(yè)。公司注冊在東海之濱享有“東方明珠”美譽的上海浦東張江高科技園區(qū)，擁有一個由國內(nèi)外專家組成的顧問班子以及由一批朝氣蓬勃的年輕人組成的技術(shù)開發(fā)、經(jīng)營、管理的隊伍。

公司研制開發(fā)的基于DSP數(shù)字控制的掃描探針顯微鏡（SPM），其主要技術(shù)指標(biāo)已達(dá)到國際先進(jìn)水平。公司目前生產(chǎn)的掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM），圖像清晰，性能穩(wěn)定；專為教學(xué)實驗設(shè)計的NanoView 2000型掃描隧道顯微鏡（STM），配有相應(yīng)的實驗教材，操作簡便、穩(wěn)定可靠；對于科研型、工業(yè)型掃描探針顯微鏡（SPM），公司有能力按照客戶的科研生產(chǎn)需要，設(shè)計制造專用的SPM系統(tǒng)。公司愿同客戶合作，共同完成科研項目及新的研究方向的開發(fā)。

公司開發(fā)的基于Internet的STM遠(yuǎn)程控制系統(tǒng)，已實現(xiàn)了在上海通過因特網(wǎng)操縱北京的SPM儀器，在上海實時獲得良好的北京樣品原子圖像。該成果已被國家科學(xué)技術(shù)部和中國科學(xué)院選定為中德技術(shù)合作、交流的五個重大項目之一。

公司在國際互聯(lián)網(wǎng)上首次創(chuàng)辦了網(wǎng)上納米雜志《iNano》()，專門介紹納米科技的有關(guān)論文、納米科技的最新發(fā)展，為關(guān)注納米科技的機構(gòu)及個人提供一條信息流通渠道。本公司秉承“以人為本、尊重人才、不斷創(chuàng)新”的宗旨，竭誠歡迎海內(nèi)外人士和機構(gòu)加盟合作，共同促進(jìn)中國納米科技的發(fā)展。

Shanghai AJ Nanoscience Co., Ltd. is a hi-tech enterprise registered at Zhangjiang Hi-tech Park in Pudong, Shanghai, engaging in the research and development of nanoscopic devices. Supported by a strong scientific advisory panel including several leading experts in China and aboard, the company is owned, organized and managed by a team of energetic young scientists.

The products, NanoView series SPMs, are based on the DSP control technique. Their main technical specifications reach international lever. NanoView series SPMs can provide high spatial resolution, good stability, and quick examination. The NanoView 2000 STMs designed for classroom teaching and practicing use are easy to maintain and easy to use. Other models for scientific research and industrial applications can be custom-made for specific demands.

AJ has made good progresses towards developing remote-control STM systems. We are now able to operate STM in Beijing through Internet in Shanghai and get on-line images in Shanghai. The Ministry of Science and Technology and Chinese Academy of Sciences designated this as one of five biggest cooperation projects between Germany and China.

　

AJ is also publishing the first Internet magazine on nanoscience?/FONT>iNano (). The purpose is to collect information concerning nanotechnology, to report new discoveries and new developments, and to provide a platform for interactions between organizations and scientists, China and aboard, research institutes and industrial groups. We welcome any comments and suggestions to promote the development of nanotechnology, especially in China.

NanoView 2000教學(xué)型STM

NanoView 2000型掃描隧道顯微鏡（STM）性能穩(wěn)定，分辨率高，能在一般實驗環(huán)境下方便、穩(wěn)定地得到高序石墨（HOPG）表面原子圖像；儀器的掃描范圍大，用同一掃描管既可進(jìn)行小范圍掃描以獲得原子圖像，又可進(jìn)行較大范圍的掃描來進(jìn)行樣品整體形貌的分析。它適用于光柵、納米團(tuán)簇等樣品，能滿足多種實驗教學(xué)內(nèi)容的需要；儀器的軟件系統(tǒng)采用WINDOWS98操作平臺，圖像處理功能強。

產(chǎn)品主要技術(shù)指標(biāo)：

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：3μm×3μm

分 辨 率： XY方向1?，Z方向0.1?，高序石墨（HOPG）常規(guī)原子分辨

針尖驅(qū)近行程及精度：行程>10mm，精度<0.1μm，步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)進(jìn)

懸吊式抗震裝置

采用DSP數(shù)字控制系統(tǒng)，全部采用16位 DAC，高壓±100V輸出

掃描速度： 最快5000點/秒

PC機與控制箱RS232接口

Windows98界面,配合相應(yīng)教材

掃描模式：恒流模式、恒高模式、I梀曲線、I梈曲線

掃描方式：連續(xù)掃描,可改變掃描方向

采樣數(shù)： 256點/線

計算機離線處理：斜面校正，濾波，平滑，反轉(zhuǎn)，F(xiàn)FT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作等

電氣防護(hù)安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA；介電強度：1500V,1分鐘電壓試驗

　

Nanoview 2000 system for teaching

System Specifications:

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 3μm×3μm

Resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical range (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

Tip engagement: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

Electronics Module: DSP based control electronics , 16bit DAC

HV output: +100 High Voltage Amplifiers

Scan speed: Maximum 5000 pixels/second

Interface connection: RS232 serial port

Software: Operates under windows 98

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Image capturing features: single and continuous scan

Sample per scan line: 256

Image processing and other offline function: planefit, filter ,smooth，invert ,FFT，zoom and cut，section，3-D display.

　

NanoView科研型STM/AFM

NanoView科研型STM/AFM是廣大科研人員從事納米科學(xué)研究的有力工具。我公司隆重推出NanoView型、NanoViewⅡ型、NanoViewⅢ型SPM產(chǎn)品，該系列產(chǎn)品的外觀設(shè)計新穎，產(chǎn)品性能優(yōu)越，儀器操作簡便，整機性能領(lǐng)先于國內(nèi)產(chǎn)品，同時和國外同類產(chǎn)品相比，具有很高的性能價格比，是21世紀(jì)發(fā)展納米科技的必備儀器。

　

主要功能及技術(shù)指標(biāo)：

　

頭部系統(tǒng)

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：3μm×3μm

STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規(guī)原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準(zhǔn)，XY方向2?，Z方向<0.5?

針尖逼近行程及精度：行程≥10mm，精度≤0.1μm

懸吊式抗震裝置

步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)近

　

　

電子學(xué)控制系統(tǒng)

DSP全數(shù)字控制

采用16位 DAC

掃描速度：最快5000點/秒

高壓放大器動態(tài)范圍：200V

PC與控制箱RS232接口

電氣防護(hù)安全：絕緣電阻>5MΩ,泄漏電流<5mA；介電強度：1500V， 1分鐘電壓試驗

　

軟件系統(tǒng)

Windows98界面，提供標(biāo)準(zhǔn)的中文版或英文版菜單和工具條

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線

采樣數(shù)： 256點/行

掃描方式：連續(xù)掃描,可改變掃描方向

可同時打開兩個實時圖像窗口，分別對應(yīng)于兩個圖像通道

可方便地進(jìn)行實時控制參數(shù)的設(shè)置和修改，并可實時地反映到圖像窗口中

離線處理軟件：包括斜面校正，濾波，平滑，反轉(zhuǎn)，F(xiàn)FT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作等功能。

圖像格式可轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

具有常規(guī)的圖像處理及圖像分析功能（FFT 濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView system for science & research (STM&AFM)

System Descriptions and Specifications　

　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 3μm×3μm

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

AFM Resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration Isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics , 16bit DAC

Scan speed: Maximum 5000 pixels/second

HV output: +100 High Voltage Amplifiers

Interface connection: 　parallel port

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

　

● AFM

Scan mode : Contact mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP export.

　

　

　

NanoViewⅡ科研型STM/AFM

主要功能及技術(shù)指標(biāo)：

頭部系統(tǒng)

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：6μm×6μm/20μm×20μm（可選）

STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規(guī)原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準(zhǔn)，XY方向2?，Z方向<0.5?

針尖逼近行程及精度：行程≥20mm, 精度≤0.1μm

懸吊式抗震裝置

步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)近

　

電子學(xué)控制系統(tǒng)

DSP全數(shù)字控制

采用高速16位 DAC

掃描速度：最快達(dá)62500點/秒

高壓放大器動態(tài)范圍：400V

可對壓電陶瓷管的掃描過程進(jìn)行自動校正

開放性結(jié)構(gòu)極易匹配其他品牌SPM的頭部系統(tǒng)

高性能DSP支持離線圖像處理

PC與控制箱并行接口

電氣防護(hù)安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA，介電強度：1500V 1分鐘電壓試驗

軟件系統(tǒng)

Windows98界面，具有標(biāo)準(zhǔn)的菜單和工具條

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能、納米刻蝕

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線

采樣數(shù)：128、256、512點/行

可同時打開三個實時圖像窗口，分別對應(yīng)于三個圖像通道

實時控制參數(shù)的設(shè)置、修改方便，實時性好，能立即反映到圖像窗口中

計算機離線處理： 斜面校正，濾波，平滑，反轉(zhuǎn)，F(xiàn)FT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作。

離線部分能同時打開多幅圖像

圖像格式可轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

其它圖像處理及圖像分析功能（FFT濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView Ⅱ system for science & research (STM&AFM)

Technology index and function　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm (optional)

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

● AFM Resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics, 16bit DAC

Scan speed: Maximum 62500 pixels/second

HV output: +200 High Voltage Amplifiers

Interface connection: parallel port

Automatic calibration of piezoelectric scanner

Support for other kinds of SPM head

　

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

AFM

Scan mode : Contact mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP export.

　

　

NanoViewⅢ科研型STM/AFM

主要功能及技術(shù)指標(biāo)：

頭部系統(tǒng)

樣品尺寸：φ10mm

具備振動TM 模式，功能類似美國DI公司的Tapping ModeTM

掃描范圍：6μm×6μm/20μm×20μm（可選）

STM分辨率： XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規(guī)原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準(zhǔn)，XY方向2?，Z方向<0.5?

振動TM模式分辨率：XY方向2?，Z方向<1?

針尖逼近行程及精度：行程≥20mm，精度≤0.1μm，

懸吊式抗震裝置

步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)近

　

電子學(xué)控制系統(tǒng)

DSP全數(shù)字控制

采用高速16 bit DAC

掃描速度：最快達(dá)62500點/秒

高壓放大器動態(tài)范圍：400V

自動校正壓電陶瓷管掃描

開放性結(jié)構(gòu)極易匹配其他品牌SPM的頭部系統(tǒng)

高性能DSP支持離線圖像處理

PC與控制箱并行接口

電氣防護(hù)安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA，介電強度：1500V 1分鐘電壓試驗

軟件系統(tǒng)

Window98界面，具備振動TM模式

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能、納米刻蝕

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線、摩擦力模式、極化力模式、振動TM模式、磁力模式、靜電力模式

采樣數(shù)：128、256、512點/線

可同時打開三個實時圖像窗口，分別對應(yīng)于三個圖像通道

實時控制參數(shù)的設(shè)置、修改方便，實時性好，能立即反映到圖像窗口中

計算機離線處理： 斜面校正，濾波，平滑，反轉(zhuǎn)，F(xiàn)FT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作

離線部分能同時打開多幅圖像

圖像格式可轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

其它圖像處理及圖像分析功能（FFT濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView Ⅲ system for science & research (STM&AFM)

System Descriptions and Specifications　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm(optional)

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

AFM resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△Z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Vibrating Mode TM (△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <1?

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics, 16bit DAC

Scan speed: Maximum 62500 pixels/second

HV output: +200 High Voltage Amplifiers

Interface connection: parallel port

Automatic calibration of piezoelectric scanner

Support for other kinds of SPM head

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

AFM

Scan mode: Contact Mode, Friction force Mode, Polarization Force Mode, Vibrating Mode, Magnetic Force Mode, Electrostatic Force Mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP format export.

　

2000年11月12日